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微分干涉顯微鏡
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微分干涉工業檢測顯微鏡

微分干涉工業檢測顯微鏡        型號:GMDIC-200

用途:
           GMDIC-200微分干涉工業檢測顯微鏡配置配置高品質的微分干涉相襯物鏡與DIC插件,使觀察時在正交偏光的基礎上,插入DIC棱鏡,即可進行DIC微分干涉相襯觀察。使用DIC技術,可以使物鏡表面微小的高低差展現出清晰,輪廓突出帶立體感的浮雕成像,極大的提高圖像的對比度。GMDIC-200微分干涉工業檢顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念,導柱升降裝置,可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離,適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺可有效定位工件觀察部位。調焦機構采用圓柱滾子導向傳動,機構升降平穩。產品適用于精密件,集成電路,包裝材料等產品檢測。
顯微成像系統簡介:
      GMDIC-200P電腦型微分干涉相襯金相顯微鏡 GMDIC-200S數碼型微分干涉相襯金相顯微鏡通過配置攝像觀察(CCD接頭、數碼相機接頭、數碼單反相機接頭等)可實現高清晰的數碼攝錄和攝像觀察方式。成像系統將通過光電轉換與計算機,數碼相機以及電視機等設備結合在一起,不僅可以在目鏡上觀察到清晰明顯的顯微圖像,還能在顯示屏幕上觀察實時動態高清圖像,還可在計算機,數碼相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
儀器特點:
«  采用優良的無限遠光學系統,可提供卓越的光學性能;
«  緊湊穩定的高剛性主體,充分體現了顯微操作的防震要求;
«  符合人機工程學要求的理念設計,使操作更方便舒適,空間更廣闊;
«  機械式移動載物平臺,適合于顯微觀察或多試樣快速檢測;
«  模塊化的功能設計,可以方便升級系統,實現暗場觀察等功能;
«  粗微動同軸調焦,粗動采用手動調節模式,微動采用電動調節模式;
技術規格

平場大視野目鏡 放大倍數(X) 視場數(mm)
WF10X Ф22mm
無限遠長工作距離平場消色差微分干涉物鏡 放大倍率(X) 數值孔徑(NA) 工作距離(mm)
LMPLan 5X 0.10 18.2
LMPLan 10X 0.25 20.2
LMPLan 20X 0.35 6.0
PL L50X 0.70 2.5
三目觀察頭 雙目鏡筒22.5°傾斜,視度可在+5~-5調節, 瞳距可在53~75mm調節, 正像觀察模式。
調焦機構 粗微動同軸調焦, 粗動采用手動調節模式,微動采用電動調節模式,其中微動手輪最小格值為2μ, 電子手輪格值為2μ,粗動松緊可調,并帶鎖緊和限位裝置。最大樣品檢測厚度≤100mm,垂直有效調焦行程(粗微動同軸調焦)35mm。
轉換器 五孔轉換器
載物臺  底座外形尺寸:300X250mm
機械移動載物臺 面板尺寸160mmX140mm
載物臺移動范圍 縱向30mmX橫向35mm
微分干涉插板 LMPLan 5X/10X/20X物鏡共用微分干涉相襯插板。
照明系統 12V50W鹵素燈,亮度可調
濾色片  磨砂玻璃,黃、綠、藍濾色片
調校工具 內六角扳手(M4)
GMDIC-200微分干涉金相顯微鏡選配件:
  1. 分劃刻度目鏡WF10X/Ф22mm 格值0.1mm/div
  2. 二維圖像測量軟件GM-2000M
  3. 金相分析軟件GM-JX2000

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